產(chǎn)品概覽 技術(shù)規(guī)格 資料下載 行業(yè)應(yīng)用

      優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)創(chuàng)造了比以往更加高清的偏光圖像

      BX53-P偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像,是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究,都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。



      UIS2物鏡觀察到的鮮明影像

      能夠?qū)崿F(xiàn)min光學(xué)失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產(chǎn)品中選擇所需產(chǎn)品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發(fā)的熒光觀察的通用物鏡,能應(yīng)對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。 

      *EF值:平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較,EF值越高光學(xué)失真越少,表明偏振光特性越好。 

      觀察影像實例 


      石英閃長巖中的斜長石帶狀結(jié)構(gòu)

      液晶MBBA(甲氧基的氨基聯(lián)苯丁基苯胺)




      UPLFLN-P系列產(chǎn)品規(guī)格
      產(chǎn)品名稱 數(shù)值孔徑 (N.A.) 工作距離 (W.D.)
      UPLFLN4XP 0.13 17.0mm
      UPLFLN10XP 0.3 10.0mm
      UPLFLN20XP 0.5 2.1mm
      UPLFLN40XP 0.75 0.51mm
      UPLFLN-P系列產(chǎn)品 UPLFLN100XOP 1.3 0.2mm

       

      ACHN-P系列產(chǎn)品規(guī)格    
      產(chǎn)品名稱       數(shù)值孔徑 (N.A.)    工作距離 (W.D.)
      ACHN10xP 0.25 6.0mm
      ACHN20xP 0.40 3.0mm
      ACHN40xP 0.65 0.45mm
      ACHN-P系列產(chǎn)品 ACHN100xOP 1.25 0.13mm

      **的操作性能和光學(xué)性能

      操作簡便、觀察清晰的顯微鏡機(jī)體 
      徹底追求人機(jī)工程學(xué)的Y形框架,操作更為舒適,提高了觀察效率。極大地降低了長時間觀察的疲勞度。 
      視場數(shù)達(dá)到了22,與一般視場數(shù)為20的顯微鏡相比,觀察的范圍增寬了21%。此外,照明系統(tǒng)采用了12 V,100 W明亮的鹵素?zé)?,能觀察明亮逼真的偏振光影像。


      支持更高效的偏振光觀察的載物臺 
      帶有旋轉(zhuǎn)中心輸出機(jī)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)載物臺,樣品可以流暢旋轉(zhuǎn)。此外,每隔45°裝有的鎖定機(jī)構(gòu),提高了觀察效率。 旋轉(zhuǎn)載物臺上裝有復(fù)式機(jī)械載物臺,能夠控制樣品的細(xì)微移動。 

      旋轉(zhuǎn)載物臺

      復(fù)式機(jī)械載物臺




      對應(yīng)上等偏振光觀察的附件

      偏振光性能優(yōu)異的附件 

      各種補(bǔ)償板的延遲測量范圍
      **改良了偏振光用聚光鏡和偏振光板的設(shè)計,提高了偏振光性能,實現(xiàn)了高EF值*、高對比度的偏振光觀察。 
      *EF值:平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較,EF值越高光學(xué)失真越少,表明偏振光特性越好。


      各種補(bǔ)償板的延遲測量范圍
       

      補(bǔ)償板 測量范圍  主要用途
      U-CTB厚型Berek  0-11,000nm  較大的延遲測量(R*>3λ)。(結(jié)晶、高分子、纖維、光彈性失真等)
      U-CBE Berek  0-1,640nm 延遲測量(結(jié)晶、高分子、纖維、生物體組織等)
      U-CSE Senarmont  0-546nm 延遲測量(結(jié)晶、生物體組織等)對比度增強(qiáng)(生物體組織等)
      U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ 0-55nm 微小延遲測量(結(jié)晶、生物體組織等)
      U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ 0-20nm 對比度增強(qiáng)(生物體組織等
      U-CWE2 石英楔子 500-2,200nm 延遲的近似測量(結(jié)晶、高分子等)

      *R表示延遲。 
      為提高測量精度,建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。(U-CWE2除外) 


      鮮明的正像鏡影像和錐光鏡影像


      錐光鏡/正像鏡觀察單元
      簡單的操作就可以切換正像鏡和錐光鏡,并且能夠?qū)瑰F光鏡影像。此外,采用了伯特蘭透鏡,即使是樣本的微小范圍,也能觀察到逼真的錐光鏡影像。

      使用數(shù)碼照相機(jī)可以記錄保存數(shù)碼圖像 

      三目觀察筒可以連接數(shù)碼照相機(jī)。可以保存和記錄數(shù)碼影像,幫助創(chuàng)建檢查報告??蓮漠嬅尜|(zhì)量、功能、操作性等方面選擇所需的數(shù)碼照相機(jī)。奧林巴斯圖像分析軟件是專門為工業(yè)顯微鏡應(yīng)用程序設(shè)計的,擁有直觀的操作菜單和上等軟件例行程序。用戶被授權(quán)使用*新的圖像分析和管理方案,以滿足特定應(yīng)用程序的需要。 

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